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臺(tái)式電鏡的配置簡(jiǎn)便，高性價(jià)比的機(jī)型，具備電鏡的基本功能，分析超簡(jiǎn)單。無(wú)需手動(dòng)操作，只靠鼠標(biāo)就可以獲取圖像，簡(jiǎn)單便捷。可搭載EDS，以成分分析為主要目的時(shí)，是價(jià)格合理性高的一款設(shè)備。在焊接過(guò)程中，焊接缺陷直接影響最終產(chǎn)品的性能和使用壽命。通過(guò)臺(tái)式掃描電鏡（SEM）可以非常輕松地觀察到一些微小的焊接缺陷，如氣孔、夾雜、焊接熱應(yīng)力下產(chǎn)生的冷熱裂紋等，從而實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量的把控，下面就列舉一些常見焊接缺陷。1.氣孔焊接氣孔指焊接時(shí)，熔池中的氣體未在金屬凝固前逸出，殘存于焊縫之中所形成的空...

臺(tái)式掃描電鏡是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過(guò)多級(jí)電磁透鏡匯集成細(xì)小的電子束。在末級(jí)透鏡上方掃描線圈的作用下，使電子束在試樣表面做光柵掃描（行掃+幀掃）。入射電子與試樣相互作用會(huì)產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等各種信息。這些信息的二維強(qiáng)度分布隨著試樣表面的特征而變，將各種探測(cè)器收集到的信息按順序、成比率地轉(zhuǎn)換成視頻信號(hào)，再傳送到同步掃描的顯像管并調(diào)制其亮度，就可得到一個(gè)反應(yīng)試樣表面狀況的掃描圖像。如果將探測(cè)器接收到的信號(hào)進(jìn)行數(shù)字化處理即轉(zhuǎn)變成數(shù)字信號(hào)，就可以由計(jì)算機(jī)做...

臺(tái)式電鏡不僅繼承了電子大型電鏡強(qiáng)大的功能，相對(duì)于大型掃描電鏡，其自動(dòng)化程度高，操作簡(jiǎn)單便捷，維護(hù)保養(yǎng)容易，體積小巧，價(jià)格低廉，檢測(cè)速度快，從啟動(dòng)裝填樣品到測(cè)試出結(jié)果僅需5分鐘左右。還創(chuàng)新的加入了實(shí)時(shí)能譜分析和實(shí)時(shí)3D顯示的功能，更高效便捷的服務(wù)于您的研究和工作。臺(tái)式電鏡的成像方式在電鏡中，對(duì)電子束進(jìn)行折射的物質(zhì)為電場(chǎng)或磁場(chǎng)，中心對(duì)稱的磁場(chǎng)，其成像性質(zhì)和高斯透鏡幾何光學(xué)一級(jí)近似，被稱為磁透鏡。磁透鏡可以是永磁和電磁。地球沿著南北極貫穿，可以看做一個(gè)巨大的磁透鏡，磁透鏡焦距固定；...

巖礦分析系統(tǒng)是一種測(cè)試鏡質(zhì)體反射率和煤品分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)自動(dòng)化程度高，所有操作可在一套軟件上完成，測(cè)量方式可滿足國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)；只需一次定標(biāo)，就可測(cè)算出視野范圍內(nèi)任意位置的鏡質(zhì)體反射率，提高了測(cè)量效率。巖礦及巖石礦物是一種存在在巖石物質(zhì)內(nèi)部，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期自然因素的相互影響和相互作用形成的天然產(chǎn)物，也被稱之為自然聚合體。巖石礦物不存在與普通巖石中，通常在地殼內(nèi)，由單一或復(fù)雜的化學(xué)元素構(gòu)成。由于巖礦的構(gòu)成元素較多，這些組成元素之間又能進(jìn)行相互作用、隨意組合，因此巖礦物質(zhì)具備明顯的多樣性的特...

臺(tái)式電鏡在傳統(tǒng)系列全自動(dòng)操作、快速成像、*防震、性能穩(wěn)定的特點(diǎn)，將電鏡的分辨率提升優(yōu)化。采用熱場(chǎng)發(fā)射電子源，信噪比高，使用壽命長(zhǎng)，保證長(zhǎng)期穩(wěn)定的性能。臺(tái)式電鏡能譜一體機(jī)標(biāo)配背散射電子成像、二次電子電子成像和能譜分析功能，可對(duì)各種樣品進(jìn)行高分辨成像及元素分析，且應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。臺(tái)式電鏡的應(yīng)用舉例：1.建筑材料包括建筑節(jié)能材料、水泥基復(fù)合材料、輕質(zhì)混凝土材料等，利用納米材料對(duì)水泥基材料進(jìn)行改性，以增強(qiáng)水泥材料的力學(xué)性能，降低孔隙率，提高耐久性。掃描電鏡作為一種常見的微觀分析方法，已...

SEM掃描電鏡從電子槍陰極發(fā)出的直徑20-30μm的電子束，受到陰陽(yáng)極之間加速電壓的作用，射向鏡筒，經(jīng)過(guò)聚光鏡及物鏡的會(huì)聚作用，縮小成直徑約幾毫微米的電子探針。在物鏡上部的掃描線圈的作用下，電子探針在樣品表面作光柵狀掃描并且激發(fā)出多種電子信號(hào)。這些電子信號(hào)被相應(yīng)的檢測(cè)器檢測(cè)，經(jīng)過(guò)放大、轉(zhuǎn)換，變成電壓信號(hào)，后被送到顯像管的柵極上并且調(diào)制顯像管的亮度。顯像管中的電子束在熒光屏上也作光柵狀掃描，并且這種掃描運(yùn)動(dòng)與樣品表面的電子束的掃描運(yùn)動(dòng)嚴(yán)格同步，這樣即獲得襯度與所接收信號(hào)強(qiáng)度相對(duì)...

JEOLSEM在金屬失效分析中的優(yōu)勢(shì)優(yōu)勢(shì)●高空間分辨率●景深大●快速導(dǎo)航的相關(guān)分析●多種分析功能-EDS，WDS，CL，EBSD，Micro-CT●大樣品室用于無(wú)損觀察●原位分析，便于處理大型不規(guī)則樣品●原位動(dòng)態(tài)測(cè)試，加熱，冷卻，EBIC和納米操作●LV包括擴(kuò)大的成像樣本壓力“收到”●高吞吐量●易于使用的GUI●拉伸試驗(yàn)和疲勞分析室內(nèi)階段允許不規(guī)則形狀和大尺寸樣品的安全定位。以下是一個(gè)關(guān)于金屬斷口失效的具體案例介紹：當(dāng)金屬材料失效時(shí)，常常通過(guò)觀察金屬的斷口來(lái)分析其失效原因，以...